國際電工委員會（IEC）正式發布《聲表面波器件用單晶晶片規范與測量方法》（IEC 62276:2025），首次明確了壓電材料的光學性能標準。三安濾波器晶體團隊在關于透過率（晶片黑化程度）的相關技術要求和測量方法上做出重要貢獻。泉州三安集成依托三安光電的研發制造經驗，持續投入LN/LT壓電材料制備工藝的研發，在新標準論證過程中提出了多項技術性修改內容，納入了新標準中主要的修訂內容之一。（美通社）
