北京2019年3月12日 /美通社/ -- 2019年2月27日，北京市第五屆發明專利獎頒獎儀式在北京會議中心舉辦。同方威視與清華大學共同申請的專利“CT系統和用于CT系統的探測裝置”獲本屆發明專利獎一等獎。**隋振江、國家知識產權局副局長賀化、北京市知識產權局黨組書記楊東起等領導出席會議并講話，高級副總裁陳偉代表同方威視領獎。
本獲獎專利“CT系統和用于CT系統的探測裝置”首創高低能排間距的差別化設計，實現了高低能排向異性的雙能探測器結構和基于該結構的高速雙能CT檢查系統。基于本專利技術，同方威視在國內外首次提出了基于新型探測器結構的雙能安檢CT成像技術，形成了具有自主知識產權的新一代X射線雙能CT安檢成像系統，并成功研制出多款應用于民航、海關以及檢驗檢疫等領域的CT安檢成像系統。
本項目憑借突出的創新優勢和顯著的經濟社會效益獲得北京市發明專利一等獎，充分體現了同方威視技術創新的實力與水平，展示了研發團隊技術創新的智慧成果。本專利獎項是對同方威視知識產權工作持續投入的肯定和鼓勵，對激發同方威視的創新積極性、提升知識產權創造和保護水平起到了巨大的推動作用。
北京市發明專利獎是北京市政府設立的重要獎項，設置該獎項的目的是發揮政府主導作用，鼓勵創新主體的創新成果及時取得專利權，提高發明專利質量。第五屆北京市發明專利獎共評選出獲獎項目36項，其中特等獎1項、一等獎5項、二等獎10項、三等獎20項。截至目前，同方威視累計獲得北京市發明專利特等獎1項，北京市發明專利一等獎2項。
